外觀不良錄入系統(tǒng)規(guī)范試題考試-ASM1

姓名：

工卡號：

部門：

SMT1ASM1DIP1線外1

同一位置存在多個(gè)缺陷現(xiàn)象時(shí)，按（）優(yōu)先順序選擇缺陷代碼？

A、C-P-T順序B、T-C-P順序C、P-C-T順序A、任何順序

錫珠不良位置不在器件上時(shí)按整板類缺陷性質(zhì)記錄為（）？

A、PROB、OTHC、MATD、PEO

上錯料時(shí)，按貼放（P）類的缺陷代碼記錄，缺陷數(shù)和缺陷點(diǎn)數(shù)均記為（）？

A、1B、2C、3D、4

屬于FQC負(fù)責(zé)錄入的數(shù)據(jù)采集點(diǎn)有？

A、爐前AOI、爐后AOIB、波峰焊后檢驗(yàn)C、組裝后檢驗(yàn)D、包裝前檢驗(yàn)E、5DX/AXI/X-RAY等檢驗(yàn)

符合單板功能測試錄入數(shù)據(jù)采集點(diǎn)的有？

A、ICT測試B、安規(guī)測試C、FT（功能測試）D、BI老化（老化測試）、ORT（持續(xù)可靠性測試）E、TSS（溫循）、ST（系統(tǒng)功能測試）

缺陷數(shù)的定義為一個(gè)缺陷位置對應(yīng)一個(gè)缺陷數(shù)

正確錯誤

缺陷點(diǎn)數(shù)的定義為器件缺陷引腳數(shù)

正確錯誤

FQC負(fù)責(zé)單板檢驗(yàn)信息錄入，包含外觀檢驗(yàn)及功能測試

正確錯誤

FQC只要在該工站承擔(dān)在線檢驗(yàn)職能，發(fā)現(xiàn)的缺陷均需做檢驗(yàn)記錄

正確錯誤

針對插件、裝配等崗位發(fā)現(xiàn)的不良，按要求錄入“工站數(shù)據(jù)采集”

正確錯誤

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